Porte-échantillon en quartz fondu pour XRD
Le porte-échantillon XRD en quartz est fabriqué à partir de quartz fondu de haute pureté, offrant une excellente transparence aux rayons X, un faible bruit de fond et une stabilité thermique et chimique exceptionnelle. Conçu pour l’analyse d’échantillons en poudre, en films minces et en petits volumes, ce support garantit des mesures XRD précises et reproductibles.
Nous proposons une personnalisation complète de la taille de la plaque, de l'épaisseur, de la géométrie de la cavité, de la planéité de la surface et des détails d'usinage. Les porte-échantillons en quartz sont largement utilisés dans la recherche en sciences des matériaux, les laboratoires de cristallographie et les équipements analytiques nécessitant des performances en rayons X à faible bruit.